聚焦于PCIe 3.0和4.0中的动态均衡技术，本文介绍其原理、实现及其相关的一致性测试，这种动态均衡技术被称作“link Equalization”（链路均衡，简称为LEQ）。本系列文章分上下两篇，本文是下篇实践篇，重点介绍Rx链路均衡的测试和调试，泰克公司的自动化软件为此提供了业界最优的解决方案。
本文引用地址：http://www.eepw.com.cn/article/202004/411843.htm
另外，泰克PCI Express专家David Bouse将在4月10日（周五）13:00-16:00直播课堂【PCI Express 5.0规范更新解读和测试揭秘】讲解如何解决PCIe 5.0的新测试挑战：https://info.tek.com/cn-pcie-mofu.html。
接收端链路均衡测试（RxLEQ）
在PCIe 2.0的时代，通常只要保证了发送端的信号质量，那么整个系统也就能够正常工作；因此接收端测试并不是必测项。但在PCIe 3.0/4.0中，由于速率成倍的增加；并且又经过长走线的传输，因此在接收端采用了复杂的均衡技术；因此在PCIe 3.0/4.0中接收端测试属于必测项。
● 压力眼图的校准就是：定量地规定这个劣化信号劣化到何种程度、以及测量该劣化信号的方法；
● 进入环回模式：为了检测接收端是否正确接收该信号；需要将已经接收到的信号原封不动地环回到待测的发送端；然后误码仪对这个环回的信号进行判断。因此需要让待测进入环回模式；
● 进行误码率测试：使用规定好的码型进行误码率测试。
● TP1校准：TP1指的是整个参考信道的近端，在该处校准幅度、随机抖动Rj、正弦抖动Sj、以及Tx EQ。
● TP2校准：TP2指的是整个参考信道的远端，在该处校准DMSI、CMSI、以及最终的眼高/眼宽。
图4 PCIe 3.0 TP2校准拓扑连接：(a) 插卡的校准 (b) 系统板的校准
完成了拓扑连接之后，就可以进行PCIe 3.0的TP2的校准了。在最终眼高/眼宽的校准过程，通过调整Rj和DMSI，来达到最终的眼高/眼宽要求。这里存在的风险是：有时候协会提供的治具一致性较差；需要很大的Rj或DMSI才能够达到最终的眼高/眼宽要求。而这并不符合在真实的情况下的Rj和DMSI的情况。
因此在PCIe 4.0中TP2的校准修改了相应的校准策略，引入了一个ISI板，优先来调节参考信道的ISI值，来对眼图进行调整。当眼图接近到最终的眼高/眼宽附近时，再通过调整DMSI，Sj和幅度来达到最终的眼高/眼宽，并且DMSI，Sj和幅度的调整范围做了限制，从而能够比较真实地模拟现实中的情况。
图5 PCIe 4.0 TP2校准拓扑连接：(a) 插卡的校准 (b) 系统板的校准
如前所述，在PCIe 4.0的校准过程中，需要参考信道的ISI值，这就涉及到一个ISI pair的迭代过程，整个迭代过程的起点是-28 dB的端到端的损耗，依据计算出来的眼高/眼宽来确定下一个ISI pair；端到端的损耗调整范围为-27 dB ~ 30dB。泰克公司的PCIe Rx自动化软件能够提供链路端到端损耗的估算，用户可以自行决定是否继续进行ISI迭代。
进入环回模式
LEQ的测试对测试仪器提出了很高的要求。它要求测试仪器能够完成协议级别的动态应答和训练。在工业界中，一般称这样的仪器为“协议感知”型仪器（Protocol-aware Instrument）。
图 7 PCIe 3.0&4.0进入环回模式：(a)从Configuration进入 (b)从Recovery进入
进行误码率测试
若成功了进入了Loopback，那么后续的误码率测试就很简单。误码仪发送Modified Compliance Pattern，检查1012个比特数据；若不超过1个误码；那么就算通过；否则就未通过。
诊断和调试
在进行Rx LEQ环回测试时，有两条数据通路：接收数据通路和环回数据通路。由于Rx LEQ是针对接收数据通路的测试，因此用户必须保证不会由于环回数据通路的原因而导致误码仪的DET进行了误判。泰克的BSX系列的误码仪具有丰富的眼图测试功能，如图8所示。这样用户再不进行任何拓扑连接改变的情况下，就能够进行误码的调试。
用户可以使用泰克公司提供的“Empty A – Modified Compliance B.ram”文件，就能够使得被测对象稳定地进入Compliance模式，然后通过这个ran文件进行码型切换，将被测对象的输出端切换到8Gbps或16Gbps，观察哪个预设定值能够给出最好的眼图。然后在图9中设置“Preset/Hint”成刚才的预设置，就能够保证环回数据通路不会引入误判的误码。
图 11 差模噪声的裕度测试：(a) 设定界面 (b) 扫描测试界面